# 2026年新品發(fā)布會(huì)#

日期：2026年7月4日

時(shí)間：8：30-18：30

近期我司新推出升級(jí)了

AND 愛(ài)安德 BA-6TE 超微量天平新品上新

AND 愛(ài)安德 BA-6TE 超微量天平新品上新

近日，日本精密測(cè)量品牌 AND 愛(ài)安德（A&D）在CISILE2026 中國(guó)科學(xué)儀器展正式推出 BA-T 系列旗艦機(jī)型BA-6TE 分體式超微量天平，定位百萬(wàn)分之一級(jí)超高精度稱量設(shè)備，依托新一代傳感調(diào)校技術(shù)，搭配全系智能化合規(guī)配置，精準(zhǔn)匹配藥企藥典管控、質(zhì)譜分析、痕量科研樣品稱量等高門檻微量檢測(cè)場(chǎng)景，補(bǔ)齊愛(ài)安德超高精度微量稱量產(chǎn)品線布局。

硬核精度參數(shù)，百萬(wàn)分之一級(jí)計(jì)量水準(zhǔn)

最大稱量：6.2g，雙段分度設(shè)計(jì)：≤2.1g 可讀性1μg（0.001mg），2.1~6.2g 可讀性 0.01mg

稱量穩(wěn)定性：1g 點(diǎn)重復(fù)性≤1μg，6g 點(diǎn)重復(fù)性≤3μg，線性誤差 ±10μg

結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)：稱量主機(jī) + 觸控顯示分體布局，規(guī)避排風(fēng)、機(jī)身發(fā)熱對(duì)稱量干擾，實(shí)驗(yàn)室布局更靈活

標(biāo)配內(nèi)置校準(zhǔn)砝碼，溫變自動(dòng)觸發(fā) ASC 內(nèi)部校準(zhǔn)，長(zhǎng)期稱量漂移可控

ECL 全自動(dòng)自檢系統(tǒng)（藥典核心剛需）

90 秒一鍵自動(dòng)完成重復(fù)性、最小稱樣量自檢，無(wú)需外購(gòu)標(biāo)準(zhǔn)砝碼，自動(dòng)生成自檢報(bào)告，契合《中國(guó)藥典》、USP41 最小稱量要求，滿足 GMP、GLP 體系內(nèi)審、外審溯源需求，消除人工檢定誤差。

標(biāo)配無(wú)風(fēng)式離子消除器

直流無(wú)風(fēng)除靜電設(shè)計(jì)，杜絕普通離子風(fēng)氣流擾動(dòng)樣品，解決粉體、微量樣品靜電漂浮、數(shù)值跳變問(wèn)題；內(nèi)置靜電偵測(cè)提醒，濕度偏低時(shí)主動(dòng)預(yù)警，大幅提升微量稱量穩(wěn)定性。

紅外感應(yīng)自動(dòng)防風(fēng)門

非接觸式紅外開(kāi)關(guān)防風(fēng)門，手部無(wú)需觸碰腔體，避免氣流擾動(dòng)與人為污染；防風(fēng)罩卡扣快拆結(jié)構(gòu)，內(nèi)壁易清潔消殺，適配無(wú)菌實(shí)驗(yàn)室、藥企潔凈區(qū)使用。

ISD 沖擊偵測(cè) + MEET 環(huán)境監(jiān)測(cè)雙防護(hù)

ISD 實(shí)時(shí)捕捉傳感器撞擊過(guò)載，事件帶時(shí)間戳存儲(chǔ)溯源，保護(hù)精密傳感器；MEET 全天候監(jiān)測(cè)溫濕度、氣壓、環(huán)境波動(dòng)，自動(dòng)記錄環(huán)境曲線，輔助判斷稱量誤差誘因。

SRC 智能校驗(yàn) + 四級(jí)權(quán)限管控

內(nèi)置智能日常校驗(yàn)程序，便捷完成設(shè)備周期性核查；四級(jí)賬號(hào)分級(jí)權(quán)限，鎖定參數(shù)修改權(quán)限，多人共用實(shí)驗(yàn)室防誤操作，數(shù)據(jù)全程可追溯。

應(yīng)用場(chǎng)景

制藥行業(yè)：微量對(duì)照品稱量、新藥研發(fā)痕量投料、QC 實(shí)驗(yàn)室藥典合規(guī)檢測(cè)、微量雜質(zhì)配制

分析檢測(cè)：質(zhì)譜前處理、元素分析、痕量樣品定量、第三方精密檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

高校科研：理化微量實(shí)驗(yàn)、材料粉體微量配比、催化試劑精準(zhǔn)配制

特種檢測(cè)：貴金屬微量稱量、微量標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)配制、微量化學(xué)品管控稱量

作為 BA-T 系列旗艦新品，AND 愛(ài)安德 BA-6TE 攻克超微量稱量靜電干擾、環(huán)境敏感、合規(guī)繁瑣三大行業(yè)痛點(diǎn)，以1μg 超高分辨率、分體抗擾結(jié)構(gòu)、全套藥典智能合規(guī)功能、全自動(dòng)靜電抑制構(gòu)建核心競(jìng)爭(zhēng)力。未來(lái) AND 愛(ài)安德將持續(xù)深耕超高精度計(jì)量賽道，覆蓋大量程精密天平（GX-A 系列）、微量 / 超微量天平完整矩陣，為生物醫(yī)藥、新材料、分析檢測(cè)領(lǐng)域提供全梯度精密稱量整體解決方案。